本文標題："電子和光學顯微學觀察樣品的象中得到襯度的變化"
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電子和光學顯微學觀察樣品的象中得到襯度的變化
在電子和光學顯微學中，在精確聚焦下襯度不足的原因是相
同的一一這些薄樣品(‘相位物體’)僅影響透過樣品的波的相位，
而不影響它的振幅。這樣，其作用象一種折射率可變的介質
如果我們想要‘看見’例如在電鏡中的原子，就必須把這
只有使用相干照明和一個有‘缺陷’顯微鏡時，我們才有希望
從一個只有折射率變化的樣品的象中得到襯度的變化。在薄樣品
的高分辨電子顯微學中精確控制照明的相千性(illumination
coherence)和離焦量(defect of foous)，乃是成功之關鍵。隨照
明相干性的改進，高分辨率顯微象中精細的細節(jié)量會有顯著的增加，
而在聚焦設置不當情況下拍攝照片，也可能會觀察到完全謬誤的
細節(jié)。
為了說明在高分辨率時，相干性對成象質量的影響
出了在其它條件相同，而照明相干性大為不同的各種條件下無定
形碳膜的象。在‘非相干’圖象中精細細節(jié)的丟失是明顯的。實際
上，在裝有常規(guī)的發(fā)叉形燈絲的電鏡中，照明相干性是由第二聚光
鏡光闌尺寸所決定的，這是一個產生高相干性的小孔徑。對足夠
小的電子源(如場發(fā)射、點狀陰極或LaBo源)照明可能是完全相
干的，而與第二聚光鏡(照明)孔徑的選擇無關。對這些電子源來
說，兩個聚光鏡縮小比率的設置對決定樣品處相干性程度也是重
需要著重強調的主要變化在于：在常規(guī)成象時，我們涉及的是厚樣
品，可能是染色樣品，用一個小的物鏡孔徑和大的聚光鏡光闌來成
象，聚焦不存在特殊問題。而在高分辨率相位襯度成象時，涉及的
是盡可能薄的(不染色的)樣品，用一個最佳尺度的較大物鏡光闌和
一個小的照明光闌。聚焦的選擇變得很苛刻，或者以計算所得的象
憑經驗加以指導，或者以樣品所要結構的鄰近有已知結構小區(qū)域的
出現(xiàn)憑經驗加以指導。對大多數(shù)不小于0．85nm分辨率所成象的大
單胞晶體來說，為了能給出一個容易解釋而不包括虛假細節(jié)的象，
當顯微鏡的球差系數(shù)為1—2mm吼聚焦應選擇在欠焦(減弱透鏡)60--
90nm的范圍內。為了設置這樣的聚焦條件，必須校準聚焦控制鈕。
在8。土節(jié)中給出了測量焦距級差(thefoousinorements)的各種方
法。
高分辨率工作對儀器的要求和變動
電子顯微鏡的主要制造廠家所提供的儀器性能都是十分接近的
。所有儀器都能給出點分辨率優(yōu)于0．35nm的明場象。現(xiàn)在傾向于
在高分辨率工作中用旁插式同心傾角臺，這種樣品臺生物工作者已
用了多年，而對于高分辨率的工作，這種臺會使對小晶體的定向大
為方便，因為使用這種樣品臺，隨樣品傾斜產生的橫向位移將會最
小。但對需長時間曝光的暗場工作時，這類樣品臺的性能還有待于
評價。 因為過去使用這類樣品臺時，由于熱效應而引起的漂移速
率比頂插式的樣品臺要大得多。
實驗室如果現(xiàn)在已經購置了透射顯微鏡，并想用它開展高分辨
率研究工作，則應考慮以下各點。
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