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本文標(biāo)題:"材料檢測(cè)分析的技術(shù)簡(jiǎn)介-材料研究金相顯微鏡廠商"

發(fā)布者:yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------ 人瀏覽過(guò)-----時(shí)間:2013-1-13 5:28:44

納米材料檢測(cè)分析的技術(shù)很多,僅針對(duì)

影像解析度高約三種顯微鏡及X光繞射顆粒度分析及X光吸收光譜作一簡(jiǎn)單入門介紹。然而,適于奈米材料分析的其他儀器尚很多。
 
例如表面積測(cè)定儀、紅外線光譜儀、熱分析儀、拉曼光譜儀…..等,
 
各個(gè)分析方法均有其優(yōu)缺點(diǎn)。所以有時(shí)常需兩種以上的分析方法互相驗(yàn)證,以得到較明確的結(jié)論

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